Segment delay faults: A new fault model

被引：53

作者：

Heragu, K ^{[1
]}

Patel, JH ^{[1
]}

Agrawal, VD ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV ILLINOIS,CTR RELIABLE & HIGH PERFORMANCE COMP,URBANA,IL 61801

来源：

14TH IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/VTEST.1996.510832

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页数：8