Technology scaling of critical charges in storage circuits based on cross-coupled inverter-pairs

被引：17

作者：

Heijmen, T ^{[1
]}

Kruseman, B ^{[1
]}

van Veen, R ^{[1
]}

Meijer, M ^{[1
]}

机构：

[1] Philips Res Labs, NL-5656 AA Eindhoven, Netherlands

来源：

2004 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS | 2004年

关键词：

D O I：

10.1109/RELPHY.2004.1315446

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：2