Generation technique of 500MHz ultra-high speed algorithmic pattern

被引：6

作者：

Imada, H

Fujisaki, K

Ohsawa, T

Tsuto, M

机构：

来源：

INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 1996, PROCEEDINGS | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/TEST.1996.557125

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

This paper describes the pattern generation for testing ultra-high speed memory devices. 500MHz algorithmic pattern can be generated by parallel operation with 4 pattern generators and arithmetic synthesis supported by a new pattern compiler.

引用

页码：677 / 684

页数：8