The role of diffraction in low-energy electron induced damage of DNA

被引：0

作者：

Oh, Doogie ^{[1
]}

Orlando, Thomas M. ^{[1
]}

机构：

[1] Georgia Inst Technol, Sch Chem & Biochem, Atlanta, GA 30332 USA

来源：

ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY | 2006年 / 231卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

202-PHYS

引用

页数：1