Random pattern testing for sequential circuits revisited

被引：21

作者：

Nachman, L ^{[1
]}

Saluja, KK ^{[1
]}

Upadhyaya, S ^{[1
]}

Reuse, R ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV WISCONSIN,DEPT ELECT COMP ENGN,MADISON,WI 53706

来源：

PROCEEDINGS OF THE TWENTY-SIXTH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON FAULT-TOLERANT COMPUTING | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/FTCS.1996.534593

中图分类号：

TP301 [理论、方法];

学科分类号：

081202 ;

摘要：

引用

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页数：9