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High-resolution X-ray diffraction and imaging
被引:1
作者
:
Fewster, Paul F.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Sussex Innovat Ctr, PANalyt Res Ctr, Brighton BN1 9SB, E Sussex, England
Sussex Innovat Ctr, PANalyt Res Ctr, Brighton BN1 9SB, E Sussex, England
Fewster, Paul F.
[
1
]
Baidakova, Marina V.
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Russian Acad Sci, AF Ioffe Phys Tech Inst, St Petersburg 196140, Russia
Sussex Innovat Ctr, PANalyt Res Ctr, Brighton BN1 9SB, E Sussex, England
Baidakova, Marina V.
[
2
]
Kyutt, Reginald
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Russian Acad Sci, AF Ioffe Phys Tech Inst, St Petersburg 196140, Russia
Sussex Innovat Ctr, PANalyt Res Ctr, Brighton BN1 9SB, E Sussex, England
Kyutt, Reginald
[
2
]
机构
:
[1]
Sussex Innovat Ctr, PANalyt Res Ctr, Brighton BN1 9SB, E Sussex, England
[2]
Russian Acad Sci, AF Ioffe Phys Tech Inst, St Petersburg 196140, Russia
来源
:
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY
|
2013年
/ 46卷
关键词
:
D O I
:
10.1107/S0021889813016415
中图分类号
:
O6 [化学];
学科分类号
:
0703 ;
摘要
:
引用
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页码:841 / 841
页数:1
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