Trace gas analysis by diode laser cavity ring-down spectroscopy

被引：0
作者：
Yan, WB [1 ]
机构：
[1] Tiger Opt LLC, Warrington, PA 18976 USA
来源：
LEOS 2001: 14TH ANNUAL MEETING OF THE IEEE LASERS & ELECTRO-OPTICS SOCIETY, VOLS 1 AND 2, PROCEEDINGS | 2001年
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：873 / 874
页数：2
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共 4 条
  • [1] GRIEBLE DL, 1997, SPECIALTY GAS ANAL
  • [2] Lehmann K.K., 1999, U.S. Patent, Patent No. [5,973,864, 5973864]
  • [3] Lehmann K.K., 1996, United States Patent, Patent No. 5528040
  • [4] Semiconductor Industry Association, 1999, INT TECHN ROADM SEM
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