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Ion etching of graphite:: Defect initiation by 5-20 eV O+ and Ne+ bombardment
被引:0
作者
:
Liu, X
论文数:
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0
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机构:
Univ Notre Dame, Dept Chem & Biochem, Notre Dame, IN 46556 USA
Liu, X
Tzvetkov, T
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机构:
Univ Notre Dame, Dept Chem & Biochem, Notre Dame, IN 46556 USA
Tzvetkov, T
Qin, XD
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h-index:
0
机构:
Univ Notre Dame, Dept Chem & Biochem, Notre Dame, IN 46556 USA
Qin, XD
Jacobs, DC
论文数:
0
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h-index:
0
机构:
Univ Notre Dame, Dept Chem & Biochem, Notre Dame, IN 46556 USA
Jacobs, DC
Mateljevic, N
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0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Univ Notre Dame, Dept Chem & Biochem, Notre Dame, IN 46556 USA
Mateljevic, N
Tully, JC
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0
h-index:
0
机构:
Univ Notre Dame, Dept Chem & Biochem, Notre Dame, IN 46556 USA
Tully, JC
机构
:
[1]
Univ Notre Dame, Dept Chem & Biochem, Notre Dame, IN 46556 USA
[2]
Yale Univ, Dept Chem, New Haven, CT 06520 USA
来源
:
ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY
|
2005年
/ 230卷
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O6 [化学];
学科分类号
:
0703 ;
摘要
:
208-PHYS
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页码:U2867 / U2867
页数:1
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