An improved Wiener deconvolution filter for high-resolution electron microscopy images (vol 50, pg 1, 2013)

被引：0

作者：

Lin, Fang ^{[1
]}

Jin, Chuanhong ^{[2
]}

机构：

[1] South China Agr Univ, Coll Sci, Guangzhou 510642, Guangdong, Peoples R China

[2] Zhejiang Univ, Dept Mat Sci & Engn, State Key Lab Silicon Mat, Hangzhou 310027, Zhejiang, Peoples R China

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/j.micron.2013.08.001

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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