未找到相关数据
Defect-oriented test for ultra-low DPM
被引：0
作者：
Iyengar, V
[1
]
Nigh, P
[1
]
机构：
[1] IBM Microelect, Essex Jct, VT 05403 USA
来源：
14TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
|
2005年
关键词：
D O I：
10.1109/ATS.2005.44
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
引用
收藏
页码：455 / 455
页数：1
相关论文