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Eighth international conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques - Preface
被引：0
作者：
Hamers, RJ
机构：
来源：
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B
|
1996年
/
14卷
/
02期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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页码：787 / 787
页数：1
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