Bi-directional Reflectance Distribution Function of Statistically Known Samples Over 220-500 GHz using a Frequency Domain Based Scatterometer: Measurements and Phenomenology

被引：0

作者：

Gordon, Joshua A. ^{[1
]}

Novotny, David R. ^{[1
]}

Heilweil, Edwin J. ^{[2
]}

Lo, Shu Zee A. ^{[2
]}

Basta, Nina P. ^{[1
]}

Grossman, Erich N. ^{[1
]}

机构：

[1] NIST, Boulder, CO 80305 USA

[2] NIST, Gaithersburg, MD 20899 USA

来源：

2013 US NATIONAL COMMITTEE OF URSI NATIONAL RADIO SCIENCE MEETING (USNC-URSI NRSM) | 2013年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页数：1