Atomically-resolved imaging by frequency-modulation atomic force microscopy using a quartz length-extension resonator (vol 87, pg 133114, 2005)

被引：1
作者：
An, T
Eguchi, T
Akiyama, K
Hasegawa, Y
机构：
[1] Univ Tokyo, Inst Solid State Phys, Kashiwa, Chiba 2778581, Japan
[2] Japan Sci & Techno Agcy, PRESTO, Kashiwa, Chiba 2778581, Japan
来源：
APPLIED PHYSICS LETTERS | 2006年 / 88卷 / 14期
关键词：
D O I：
10.1063/1.2168156
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
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共 1 条
[1]   Atomically-resolved imaging by frequency-modulation atomic force microscopy using a quartz length-extension resonator [J].
An, TS ;
Eguchi, T ;
Akiyama, K ;
Hasegawa, Y .
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2005, 87 (13) :1-3
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