Special Issue on Emerging RF Measurement Techniques and Applications

被引：0

作者：

Roblin, Patrick ^{[1
]}

Li, Changzhi ^{[2
]}

Hayden, Leonard ^{[3
]}

机构：

[1] Ohio State Univ, Dept Elect & Comp Engn, Columbus, OH 43210 USA

[2] Texas Tech Univ, Dept Elect & Comp Engn, Lubbock, TX 79409 USA

[3] Qorvo Inc, EDA Grp, Greensboro, NC 27409 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TMTT.2016.2614741

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：3761 / 3763

页数：3