A Fully Automated Benchtop X-Ray Diffractometer for Structure Determination of Small Molecules

被引：0
作者：
Ruf, Michael [1 ]
机构：
[1] Bruker AXS Inc, Madison, WI 53711 USA
来源：
AMERICAN LABORATORY | 2009年 / 41卷 / 04期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O65 [分析化学];
学科分类号：
070302 ; 081704 ;
摘要：
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共 1 条
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