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Recent research advances in Pb-free solders
被引:20
作者
:
Lai, Yi-Shao
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Adv Semicond Engn Inc, Corp R&D Ctr, Kaohsiung 81170, Taiwan
Adv Semicond Engn Inc, Corp R&D Ctr, Kaohsiung 81170, Taiwan
Lai, Yi-Shao
[
1
]
Tong, Ho-Ming
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Adv Semicond Engn Inc, Corp R&D Ctr, Kaohsiung 81170, Taiwan
Adv Semicond Engn Inc, Corp R&D Ctr, Kaohsiung 81170, Taiwan
Tong, Ho-Ming
[
1
]
Tu, King-Ning
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Univ Calif Los Angeles, Dept Mat Sci & Engn, Los Angeles, CA 90095 USA
Adv Semicond Engn Inc, Corp R&D Ctr, Kaohsiung 81170, Taiwan
Tu, King-Ning
[
2
]
机构
:
[1]
Adv Semicond Engn Inc, Corp R&D Ctr, Kaohsiung 81170, Taiwan
[2]
Univ Calif Los Angeles, Dept Mat Sci & Engn, Los Angeles, CA 90095 USA
来源
:
MICROELECTRONICS RELIABILITY
|
2009年
/ 49卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1016/j.microrel.2009.02.007
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:221 / 222
页数:2
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