Special issue - On-line testing

被引:0
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作者
Agrawal, VD
机构
来源
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS | 2004年 / 20卷 / 05期
关键词
D O I
10.1023/B:JETT.0000042509.09888.f2
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
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