VHDL fault injection questioned

被引：0
作者：
Ghosh, S
机构：
来源：
IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1997年 / 14卷 / 02期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
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相关论文
共 2 条
[1]  
GHOSH S, 1991, INT J ELECT TESTING, V2, P135
[2]  
Santucci J. F., 1993, Journal of Microelectronic Systems Integration, V1, P55
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