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Abnormal Single-Lead Electrocardiograms Predict Future Atrial Fibrillation Risk: The VITAL-AF Trial
被引：0
作者：
Pipilas, Daniel
Khurshid, Shaan
Al-Alusi, Mostafa
Atlas, Steven
Ashburner, Jeffrey M.
Borowsky, Leila H.
McManus, David D.
Singer, Daniel E.
Lubitz, Steven A.
Chang, Yuchiao
Ellinor, Patrick T.
机构：
来源：
关键词：
Atrial fibrillation;
Electrocardiography;
Device;
D O I：
10.1161/circ.148.suppl_1.15268
中图分类号：
R5 [内科学];
学科分类号：
1002 ;
100201 ;
摘要：
A15268
引用
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页数：3
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