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干涉法测量晶体的压电系数
被引:2
作者
:
尹鑫
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0
机构:
山东大学晶体材料研究所
尹鑫
论文数:
引用数:
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机构:
马世刚
机构
:
[1]
山东大学晶体材料研究所
来源
:
物理
|
1988年
/ 11期
关键词
:
晶体;
电光效应;
KDP;
电压;
光学效应;
压电系数;
干涉法;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
我们用一台泰曼干涉仪,以DKDP晶体的电光效应补偿由于晶体反压电效应听引起的光程差,提供了一种简单、迅速和高灵敏度测量晶体压电系数的方法.
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页码:679 / 680
页数:2
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共 1 条
[1]
晶体物理.[M].蒋民华编;.山东科学技术出版社.1980,
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