基于OCT技术对古代瓷釉断面结构特征的初步研究

被引：21

作者：

严鑫 ^{[1
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]}

董俊卿 ^{[1
]}

李青会 ^{[1
]}

郭木森 ^{[3
]}

胡永庆 ^{[3
]}

机构：

[1] 中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心

[2] 中国科学院大学

[3] 河南省文物考古研究院

来源：

中国激光 | 2014年 / 41卷 / 09期

关键词：

测量; 光学相干层析; 无损成像; 瓷釉;

D O I：

暂无

中图分类号：

TQ174.66 [];

学科分类号：

080706 ;

摘要：

为了验证将光学相干层析(OCT)成像技术应用于古代陶瓷无损检测,将OCT图像表现的釉面的断面特征用于古代陶瓷类别区分的可行性,利用宽波长频域OCT成像系统对选自5个窑口的8个不同釉系、色系的瓷片进行测试,得到了样品的断面结构图像,并分析了OCT图像中的气泡大小和分布、强散射颗粒分布、釉层均匀性、透射率、釉层的分层等特征。实验结果显示8个古代瓷釉样品OCT成像特征差异明显,说明OCT成像技术能基于断层图像特征对瓷釉的釉系、窑口进行区分。

引用

页码：201 / 206

页数：6

共 6 条

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