嵌入式系统的在线自测试技术

被引:3
作者
刘建都
机构
[1] 空军工程大学!陕西三原
关键词
嵌入式系统; 在线可测试; 内建自测试;
D O I
暂无
中图分类号
TN407 [测试和检验];
学科分类号
080903 ; 1401 ;
摘要
嵌入式系统必须满足用户对其越来越高的安全性和可靠性的要求,作者首先审视了用于测试数字系统故障的各种在线可测试技术,然后重点讨论了一种将被广泛应用于嵌入式系统的在线测试技术──内建自测试技术。
引用
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共 1 条
[1]   CMOS存储单元的开路故障可测性设计 [J].
刘建都 .
微电子测试, 1994, (02) :23-24+22