柱后切换及程序升温气相色谱法测定六氟化硫气体中痕量一氧十氟化二硫

被引：3

作者：

程微微

马桂兰

朱沁龙

机构：

[1] 中国原子能科学研究院!北京,中国原子能科学研究院!北京,中国原子能科学研究院!北京

来源：

关键词：

气相色谱分析; 柱后切换和程序升温; 一氧十氟化二硫;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.7 [色谱分析];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

本工作提供了用柱后切换和程序升温技术测定纯六氟化硫气体中痕量有毒杂质Ｓ２Ｆ１０Ｏ含量的气相色谱方法。用火焰光度检测器检测，进样量为１ｍＬ时，Ｓ２Ｆ１０Ｏ最小检测浓度为５×１０－７（ｍｏｌ／ｍｏｌ）。

引用

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