数字散斑相关法研究镍钴基高温合金中的PLC效应

被引：5

作者：

符师桦 ^{[1
]}

高越 ^{[1
]}

潘华烨 ^{[1
]}

程腾 ^{[1
]}

崔传勇 ^{[2
]}

张青川 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国科学技术大学中国科学院材料力学行为和设计重点实验室

[2] 中国科学院金属研究所

来源：

实验力学 | 2012年 / 27卷 / 05期

基金：

中国博士后科学基金;

关键词：

Portevin-Le Chatelier效应; 动态应变时效; 高温合金; 数字散斑相关; PLC带;

D O I：

暂无

中图分类号：

TG132.32 [];

学科分类号：

080502 ;

摘要：

作为航空发动机涡轮盘用新型材料,镍钴基变形高温合金在300～600℃温度区间内拉伸时会产生Portevin-Le Chatelier(PLC)效应。本文采用数字散斑相关方法,研究了镍钴基变形高温合金在400℃下拉伸变形过程中伴随PLC效应出现的应变局域化现象,即PLC带。实验结果表明,PLC带内的应变比试件平均应变大一个数量级,而带外部分应变接近于零。同时还观察到了带外部分的弹性收缩现象,即出现应变为负的区域。在拉伸全程中,PLC带与拉伸轴方向成约60°的夹角。PLC带的宽度均为4～4.5mm,远大于试件最小尺寸(厚度),这一点与铝合金中的带宽与试件最小尺寸相近这一现象截然不同。

引用

页码：581 / 586

页数：6

共 11 条

[1] Al-Mg合金中锯齿形屈服现象的热分析 [J].

曹鹏涛 ;

张青川 ;

符师桦 ;

胡琦 ;

高云 .

物理学报, 2010, 59 (01) :458-465

[2] 红外测温法研究Al-Mg合金中的Portevin-Le Chatelier效应 [J].

曹鹏涛 ;

张青川 ;

肖锐 ;

熊少敏 .

物理学报, 2009, 58 (08) :5591-5597

[3] LA41镁合金的PLC效应及其解释 [J].

王聪 ;

徐永波 ;

韩恩厚 .

金属学报 , 2006, (02) :191-194

[4] Al-Cu多晶合金中锯齿形屈服现象的时序统计研究 [J].

卢俊勇 ;

蒋震宇 ;

张青川 .

实验力学, 2005, (04) :515-524

[5] 白光散斑相关法多尺度分析Portevin-Le Chatelier剪切带变形 [J].

刘颢文 ;

张青川 ;

项国富 ;

金生程 ;

卢俊勇 ;

蒋震宇 ;

伍小平 .

实验力学, 2005, (04) :487-493

[6] Internal microstructure evolution of aluminum foams under compression [J].

Wang, Min ;

Hu, Xiao-Fang ;

Wu, Xiao-Ping .

MATERIALS RESEARCH BULLETIN, 2006, 41 (10) :1949-1958

[7]

Spatial characteristics of the Portevin-Le Chatelier deformation bands in Al-4at%Cu polycrystals[J] . Zhenyu Jiang,Qingchuan Zhang,Huifeng Jiang,Zhongjia Chen,Xiaoping Wu. Materials Science & Engineering A . 2005 (1)

[8]

On the propagation and pulsation of Portevin-Le Chatelier deformation bands: An experimental study with digital speckle pattern metrology[J] . Qingchuan Zhang,Zhenyu Jiang,Huifeng Jiang,Zhongjia Chen,Xiaoping Wu. International Journal of Plasticity . 2005 (11)

[9] Serrated yielding in Cu-1 wt-%Cd alloy [J].

Nagarjuna, S ;

Anozie, FN ;

Evans, JT .

MATERIALS SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 19 (12) :1661-1664

[10] Low-frequency harmonic vibration analysis with temporal speckle pattern interferometry [J].

Li, XD ;

Tao, G .

OPTICS AND LASER TECHNOLOGY, 2002, 34 (03) :259-264

← 1 2 →