Mechanisms for Polarization Fatigue Behaviors of Perovskite Oxide Ferroelectric Thin Films

被引：0

作者：

LIU J M (Department of Physics and National Laboratory of Solid State Microstructures

机构：

来源：

关键词：

Thin; Mechanisms for Polarization Fatigue Behaviors of Perovskite Oxide Ferroelectric Thin Films;

D O I：

暂无

中图分类号：

O484 [薄膜物理学];

学科分类号：

080501 ; 1406 ;

摘要：

引用

页码：36 / 36

页数：1