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CX(X=F,Cl,Br,I)的结构稳定性和电子性质
被引:4
作者
:
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曹青松
[
1
]
邓开明
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机构:
南京理工大学应用物理系
南京理工大学泰州科技学院
邓开明
[
2
]
机构
:
[1]
南京理工大学泰州科技学院
[2]
南京理工大学应用物理系
来源
:
物理化学学报
|
2010年
/ 02期
关键词
:
密度泛函理论;
富勒烯;
C56;
C56X10;
电子结构;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O641.1 [化学键理论];
学科分类号
:
摘要
:
采用密度泛函理论(DFT)中的广义梯度近似(GGA)方法对C56X10(X=F,Cl,Br,I)的结构稳定性和电子性质进行了计算研究.结构稳定性计算表明:对于C56X10(X=F,Cl,Br,I),能隙、反应热、最大振动频率和最小振动频率都随着X原子序数的增加而减小,表明C56X10(X=F,Cl,Br,I)的稳定性随着X原子序数的增加而逐渐降低,其中C56F10最为稳定.前人在实验上已成功合成出C56Cl10,因此,我们推测C56F10有望在实验上成功合成.前线轨道计算发现,C56相邻的五边形公共顶点以及两个六边形-五边形-六边形公共顶点是笼子中化学活性最强的部位,有利于卤族元素的外部吸附.此外,计算结果还显示,C56X10(X=F,Cl,Br,I)的电负性随着X原子序数的增大而逐渐减弱,C—X基团的电负性因位置的不同而不同.
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