a-Si∶H/a-Ge∶H超晶格的电学特性研究

被引:0
作者
王印月
许怀哲
陈光华
机构
[1] 兰州大学物理系
关键词
超点阵; 电导率; 能隙;
D O I
10.13885/j.issn.0455-2059.1993.01.007
中图分类号
O482 [固体性质];
学科分类号
摘要
测量了反应溅射 a-Si∶H/a-Ge∶H 超晶格的平行电导和垂直电导,研究了超晶格的结构和输运机理;实验观察到了强场下垂直电导的指数增强效应,得到阱层 a-Ge∶H 的深隙态密度Ng=1.9×1018cm-3·ev-1.对实验结果作了初步讨论.
引用
收藏
页码:36 / 41
页数:6
相关论文
共 3 条
  • [1] 反应溅射生长的a-Si:H/a-Ge:H超晶格光学性质研究
    王印月
    许怀哲
    张仿清
    陈光华
    [J]. 半导体学报, 1991, (12) : 755 - 758
  • [2] 反应溅射生长的 a-Ge∶H/a-Si∶H 超晶格结构的 TEM 观察
    王印月
    许怀哲
    张仿清
    陈光华
    高金成
    李柏年
    王代思
    [J]. 兰州大学学报, 1990, (02) : 129 - 130
  • [3] Charaeterization of a-Si:H/a-Ge:H Superlattices by Raman Scattering .2 Sant P V,Ley L. Phys Rev B . 1987