嵌入式DRAM的BIST测试方法的研究

被引：3

作者：

张必超

蒋大文

于鹏

机构：

[1] 四川大学测控系,四川大学测控系,四川大学测控系四川成都,四川成都,四川成都

来源：

关键词：

片上系统(SOC); 超大规模集成电路; 嵌入式DRAM; 内建自测试;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

通过对比分析了嵌入式DRAM的传统测试方法和内建自测试 (BIST)方法 ,提出了嵌入式DRAM的内建自测试 (BIST)方案 ,该方案具有测试生成快 ,节约测试成本等优点 ,对其它类型电路的测试也有很好的借鉴价值。

引用

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