Cr∶KTiOPO4晶体缺陷的研究

被引:2
作者
胡秀琴
官文栎
牟其善
刘希玲
马长勤
王绪宁
机构
[1] 山东教育学院!济南
[2] 山东大学化学院!济南
关键词
Cr∶KTP晶体; 同步辐射白光X射线形貌术; 缺陷; 非线性光学晶体;
D O I
10.16553/j.cnki.issn1000-985x.2000.01.015
中图分类号
O77 [晶体缺陷];
学科分类号
摘要
首次报道了利用光学显微法和同步辐射白光X射线形貌术对Cr∶KTP晶体缺陷的研究结果。光学显微法采用热磷酸作为腐蚀剂 ,用Opton大型显微镜反射法观察 ,观测到 (10 0 )面和 (0 2 1)面的位错蚀坑以及 (0 2 1)面的小角度晶界。用同步辐射白光X射线形貌术作出 (0 0 1)面、(0 10 )面和(10 0 )面形貌图 ,从图中可明显观察到生长层、扇形界及位错线。由此得出 ,Cr∶KTP晶体的主要缺陷是位错、生长扇形界、生长层等。
引用
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