Investigation of mechanical damage of SOFC caused by electrochemical oxidation using in-situ acoustic emission and electrochemical technique

被引：0

作者：

机构：

[1] Kumada, Keigo

[2] Sato, Kazuhisa

[3] Hashida, Toshiyuki

来源：

Hashida, Toshiyuki (hashida@rift.mech.tohoku.ac.jp) | 1600年 / Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., United States卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

125071

引用