Effect of silicon on the protective character of Cr2O3 scales: Analyses by `in situ' XPS

被引：0

作者：

Huntz, A.M. ^{[1
]}

Loudjani, M.K. ^{[1
]}

Severac, C. ^{[1
]}

Haut, C. ^{[1
]}

Ropital, F. ^{[1
]}

机构：

[1] Universite Paris XI, Orsay, France

来源：

Materials Science Forum | 1997年 / 251-254卷 / part 1期

关键词：

D O I：

暂无

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学科分类号：

摘要：

10

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