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Characterization of grown-in dislocations in benzophenone single crystals by x-ray topography
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作者
:
Tachibana, Masaru
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机构:
Yokohama City Univ, Yokohama, Japan
Yokohama City Univ, Yokohama, Japan
Tachibana, Masaru
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Motomura, Shigeki
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Yokohama City Univ, Yokohama, Japan
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Motomura, Shigeki
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Uedono, Akira
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Yokohama City Univ, Yokohama, Japan
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Uedono, Akira
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Tang, Qi
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Yokohama City Univ, Yokohama, Japan
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Tang, Qi
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Kojima, Kenichi
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Yokohama City Univ, Yokohama, Japan
Yokohama City Univ, Yokohama, Japan
Kojima, Kenichi
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机构
:
[1]
Yokohama City Univ, Yokohama, Japan
来源
:
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers
|
1992年
/ 31卷
/ 07期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
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页码:2202 / 2205
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