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Modeling the effects of write field rise time on the recording properties in thin film media
被引：0
作者：
READ-RITE Corp, Fremont, United States
[1
]
机构：
来源：
IEEE Trans Magn
|
/
1卷
/
61-66期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
12
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