SiO2/Si system studied by scanning capacitance microscopy

被引：0

作者：

Yamamoto, Takuma ^{[1
]}

Suzuki, Yoshihiko ^{[1
]}

Sugimura, Hiroyuki ^{[1
]}

Nakagiri, Nobuyuki ^{[1
]}

机构：

[1] Nikon Corp, Ibaraki, Japan

来源：

Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers & Short Notes & Review Papers | 1996年 / 35卷 / 6 B期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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