Crystallographic characterization of epitaxial Pb(Zr, Ti)O3 films with different Zr/Ti ratio grown by radio-frequency-magnetron sputtering

被引：0

作者：

机构：

[1] Kanno, Isaku

[2] Kotera, Hidetoshi

[3] Wasa, Kiyotaka

[4] Matsunaga, Toshiyuki

[5] Kamada, Takeshi

[6] Takayama, Ryouichi

来源：

Kanno, I. (kanno@mech.kyoto-u.ac.jp) | 1600年 / American Institute of Physics Inc.卷 / 93期

关键词：

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