The development of C KVV X-ray-excited auger spectroscopy for estimation of the sp2:sp3 ratio in DLC films

被引：0

作者：

IRTM, RRC Kurchatou Institute, Kurchatov sq., Moscow 123182, Russia ^{[1
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机构：

来源：

Journal of Wide Bandgap Materials | 1997年 / 5卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

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