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The influence of interface roughness on electrical transport in nanoscale metallic multilayers
被引：0
作者：
机构：
[1] Aurongzeb, D.
[2] Holtz, M.
[3] Berg, J.M.
[4] Chandolu, A.
[5] Temkin, H.
来源：
|
1600年
/
American Institute of Physics Inc.卷
/
98期
关键词：
Number:;
CTS-0210141;
ECS-0323640;
Acronym:;
NSF;
Sponsor: National Science Foundation;
D O I：
暂无
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