High temperature superconductor thin-film characterization by the modulated optical reflectance technique

被引：0

作者：

Almond, D.P. ^{[1
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Barker, A.K. ^{[1
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Bento, A.C. ^{[1
]}

Singh, S.K. ^{[1
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Appleyard, N.J. ^{[1
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Jackson, T.J. ^{[1
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Palmer, S.B. ^{[1
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机构：

[1] Univ of Bath, Bath, United Kingdom

来源：

Superconductor Science and Technology | 1995年 / 8卷 / 08期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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