Specific features of radiation defects in metal-semiconductor surface-barrier structures with microrelief interface

被引:0
作者
Borkovskaya, O.Yu. [1 ]
Dmitruk, N.L. [1 ]
Voitsikhovskii, D.I. [1 ]
Konakova, R.V. [1 ]
Mamykin, S.V. [1 ]
Milenin, V.V. [1 ]
Mamontova, I.B. [1 ]
Rengevich, E.V. [1 ]
Solov'ev, E.A. [1 ]
Tagaev, M.B. [1 ]
机构
[1] Inst of Semiconductor Physics, Kiev, Ukraine
来源
| 2000年 / Gordon & Breach Science Publ Inc, Newark, NJ, United States卷 / 15期
关键词
Microrelief interface - Quanta irradiation - Radiation defects;
D O I
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