EFFECT OF MATERIAL RATE SENSITIVITY ON FAILURE MODES IN THE CHARPY V-NOTCH TEST.

被引：0

作者：

Tvergaard, Viggo ^{[1
]}

Needleman, Alan ^{[1
]}

机构：

[1] Technical Univ of Denmark, Lyngby, Den, Technical Univ of Denmark, Lyngby, Den

来源：

| 1600年 / 34期

基金：

美国国家科学基金会;

关键词：

CHARPY V-NOTCH TEST - FAILURE MODES - MATERIAL RATE SENSITIVITY;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

(Edited Abstract)

引用