50 nm pattern etching of Si wafer by synchrotron radiation excited CF4 plasma

被引:0
作者
Inanami, Ryoichi [1 ]
Yamada, Tomoya [1 ]
Ohsaki, Shintaro [1 ]
Ogawa, Shinji [1 ]
Morita, Shinzo [1 ]
机构
[1] Nagoya Univ, Nagoya, Japan
来源
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers & Short Notes & Review Papers | 1997年 / 36卷 / 12 B期
关键词
D O I
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学科分类号
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页码:7706 / 7709
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