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50 nm pattern etching of Si wafer by synchrotron radiation excited CF4 plasma
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作者
:
Inanami, Ryoichi
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机构:
Nagoya Univ, Nagoya, Japan
Nagoya Univ, Nagoya, Japan
Inanami, Ryoichi
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Yamada, Tomoya
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机构:
Nagoya Univ, Nagoya, Japan
Nagoya Univ, Nagoya, Japan
Yamada, Tomoya
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Ohsaki, Shintaro
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Nagoya Univ, Nagoya, Japan
Nagoya Univ, Nagoya, Japan
Ohsaki, Shintaro
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Ogawa, Shinji
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机构:
Nagoya Univ, Nagoya, Japan
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Ogawa, Shinji
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Morita, Shinzo
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机构:
Nagoya Univ, Nagoya, Japan
Nagoya Univ, Nagoya, Japan
Morita, Shinzo
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]
机构
:
[1]
Nagoya Univ, Nagoya, Japan
来源
:
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers & Short Notes & Review Papers
|
1997年
/ 36卷
/ 12 B期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
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页码:7706 / 7709
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