Spectroscopic ellipsometric characterization of transparent thin film amorphous electronic materials: Integrated analysis

被引：0

作者：

Popov, K.V. ^{[1
]}

Tikhonravov, A.V. ^{[1
]}

Campmany, J. ^{[1
]}

Bertran, E. ^{[1
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Bosch, S. ^{[1
]}

Canillas, A. ^{[1
]}

机构：

[1] Moscow State Univ, Moscow, Russia

来源：

Thin Solid Films | 1998年 / 313-314卷 / 1-2期

关键词：

This work was supported by the Comisión Interministerial de Ciencia y Tecnologı´a of Spain under contract MAT93-0354. The authors acknowledge partial financial support from the PECO grant ERBCIPDTCT940609;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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