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Problems Associated with the Use of a Microcomputer for Self-Testing of Technical Systems.
被引：0
作者：
Steger, Gerhard
机构：
来源：
Zeitschrift fur Elektrische Informations - und Energietechnik
|
1980年
/
10卷
/
03期
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
ELECTRONIC CIRCUITS
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页码：213 / 222
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