Dependence of minority-carrier recombination lifetime on surface microroughness in silicon wafers

被引:0
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作者
Daio, Hiroshi [1 ]
Shimura, Fumio [1 ]
机构
[1] North Carolina State Univ, Raleigh, United States
来源
Japanese Journal of Applied Physics, Part 2: Letters | 1993年 / 32卷 / 12 B期
关键词
D O I
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