CRITERIA FOR THE ULTRASONIC MEASUREMENT OF THICKNESSES BY INTERFEROMETRIC METHODS.

被引：0

作者：

Houze, M. ^{[1
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Nongaillard, B. ^{[1
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Rouvaen, J.M. ^{[1
]}

Lefebvre, J.E. ^{[1
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Gazalet, M.G. ^{[1
]}

机构：

[1] Laboratoire d'Opto-Acousto-Electronique (ERA No. 593 C.N.R.S.), Université de Valenciennes, 59326 Valenciennes Cedex, France

来源：

| 1600年 / 56期

关键词：

D O I：

暂无

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学科分类号：

摘要：

引用