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EXTRACTION OF LOW-FREQUENCY PROPERTIES FROM SCATTERING MEASUREMENTS.
被引：0
作者：
Richardson, J.M.
Elsley, R.K.
机构：
来源：
Ultrasonics Symposium Proceedings
|
1979年
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
Nondestructive examination
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页码：336 / 341
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