Testability and test generation for majority voting fault-tolerant circuits

被引：0

作者：

Stroud, Charles E. ^{[1
]}

Barbour, Ahmed E. ^{[1
]}

机构：

[1] AT&T Bell Lab, Naperville, United States

来源：

Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) | 1993年 / 4卷 / 03期

关键词：

18;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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