Nanoscale reliability assessment of electronic devices

被引：0

作者：

Balk, L.J. ^{[1
]}

Cramer, R.M. ^{[1
]}

机构：

[1] Lehrstuhl für Elektronik, Bergische Universitat - GW, Fuhlrottstr. 10, 42097 Wuppertal, Germany

来源：

Microelectronic Engineering | 1999年 / 49卷 / 01期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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