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Calculation of Logic Circuits Tests Using Double Synchronization.
被引：0
作者：
Sziray, Jozsef
机构：
来源：
Meres es automatika
|
1980年
/
28卷
/
10期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
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页码：390 / 395
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