FIELD-ASSISTED ION EXCHANGE FOR THE DETECTION OF LOCALIZED DEFECTS IN THIN FILMS ON GLASS SUBSTRATES.

被引：0

作者：

Pantchev, B.G. ^{[1
]}

Danesh, P. ^{[1
]}

机构：

[1] Bulgarian Acad of Sciences, Sofia, Bulg, Bulgarian Acad of Sciences, Sofia, Bulg

来源：

Thin Solid Films | 1988年 / 161卷

关键词：

INTERFERENCE MICROSCOPE - LOCALIZED DEFECTS;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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